发明名称 FORMATION OF WAFER FOR CALIBRATION OF INSPECTING APPARATUS FOR SURFACE CONTAMINATION OF WAFER
摘要
申请公布号 JPH04317352(A) 申请公布日期 1992.11.09
申请号 JP19910084892 申请日期 1991.04.17
申请人 NEC YAMAGATA LTD 发明人 HIRAI ATSUSHI
分类号 H01L21/66;H01L21/027 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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