发明名称 METHOD AND APPARATUS FOR SCREENING ELECTRONIC COMPONENTS
摘要
申请公布号 JPH04313251(A) 申请公布日期 1992.11.05
申请号 JP19910078794 申请日期 1991.04.11
申请人 HITACHI LTD;HITACHI TOKYO ELECTRON CO LTD 发明人 NAKAGAWA KIYOSHI;IDE AKIMIKI;KONO FUKASHI;ANDO TAKAYUKI
分类号 G01R31/26;H01L21/66 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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