发明名称 SEMICONDUCTOR TESTING METHOD
摘要
申请公布号 JPH04313080(A) 申请公布日期 1992.11.05
申请号 JP19910060232 申请日期 1991.03.25
申请人 MITSUBISHI ELECTRIC CORP 发明人 ARIMA SATOSHI
分类号 G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
地址
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