INTERFACE CIRCUIT FOR TESTING LSI,申请号JP19910081523-传众专利搜索

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发明名称	INTERFACE CIRCUIT FOR TESTING LSI
摘要
申请公布号	JPH04291178(A)	申请公布日期	1992.10.15
申请号	JP19910081523	申请日期	1991.03.20
申请人	FUJITSU LTD	发明人	MAESAKI YOSHIHIRO
分类号	G01R31/28;G06F11/22	主分类号	G01R31/28
代理机构		代理人
主权项
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