Method and device for testing an arrangement of electrical conductors.

摘要

Die Erfindung betrifft ein Verfahren sowie eine Vorrichtung zur Prüfung einer elektrischen Leiteranordnung, insbesondere von Leiterbahnen einer Leiterplatte, auf Kurzschluß und/oder Unterbrechung, wobei Prüfpunkte der Leiteranordnung mittels Meßsonden kontaktiert und die ermittelten Meßergebnisse ausgewertet werden. Es ist vorgesehen, daß die Leiteranordnung mit einem elektrischen Feld beaufschlagt wird und daß mindestens ein aufgrund des elektrischen Feldes sich bildendes elektrisches Potential von den Meßsonden an den einzelnen Prüfpunkten abgenommen und mit dem Potential anderer Prüfpunkte und/oder mit einer Referenz verglichen wird. <IMAGE>