LAYOUT TEST METHOD,申请号JP19910052828-传众专利搜索

发明名称	LAYOUT TEST METHOD
摘要
申请公布号	JPH04288850(A)	申请公布日期	1992.10.13
申请号	JP19910052828	申请日期	1991.03.18
申请人	FUJITSU LTD;FUJITSU VLSI LTD	发明人	UECHI MASAHITO
分类号	H01L21/66;G06F17/50;H01L21/822;H01L27/04	主分类号	H01L21/66
代理机构		代理人
主权项
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