Method for testing of integrated semiconductor circuits soldered in circuit boards and usage of a transistor tester for this method.

摘要

Ein Verfahren zum Testen von auf Platinen eingelöteten integrierten Halbleiterschaltkreisen durch Bestimmen von zwischen Pins eines integrierten Halbleiterschaltkreises bei angelegter Spannung fließenden Strömen, bei dem die typischen Steuer- oder Schaltmerkmale eines parasitären Transistors des integrierten Halbleiterschaltkreises mit einem auf der Platine mit den zu dem parasitären Transistor führenden Pins des integrierten Halbleiterschaltkreises kontaktierten Transistortester bestimmt werden. <IMAGE>