| 发明名称 |
CIRCUIT TEST DEVICE FOR INTEGRATED CIRCUIT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH04280464(A) |
申请公布日期 |
1992.10.06 |
| 申请号 |
JP19910068039 |
申请日期 |
1991.03.07 |
| 申请人 |
NIPPON TELEGR & TELEPH CORP <NTT>;SUMITOMO METAL MINING CO LTD |
发明人 |
NAGATSUMA TADAO;ITO MASAHIRO |
| 分类号 |
G01R19/155;G01R19/00;G01R31/302;G02F1/03;H01L21/66;H01L21/822;H01L27/04 |
主分类号 |
G01R19/155 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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