发明名称 CHARACTERISTIC MEASURING APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR LASER
摘要
申请公布号 JPH04268466(A) 申请公布日期 1992.09.24
申请号 JP19910028460 申请日期 1991.02.22
申请人 NEC CORP 发明人 SEKINO TOSHIAKI
分类号 G01M11/00;G01R31/26;H01L21/66;H01S5/00 主分类号 G01M11/00
代理机构 代理人
主权项
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