发明名称 SOLDER HEAT TEST METHOD FOR PLASTIC SEALED SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要
申请公布号 JPH04266045(A) 申请公布日期 1992.09.22
申请号 JP19910027309 申请日期 1991.02.21
申请人 MATSUSHITA ELECTRON CORP 发明人 SUGAWA MANABU
分类号 G01R31/00;G01R31/26;H01L21/66 主分类号 G01R31/00
代理机构 代理人
主权项
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