| 发明名称 |
AUTOMATIC IN-CIRCUIT TESTER AND TESTING METHOD THEREOF |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH04264274(A) |
申请公布日期 |
1992.09.21 |
| 申请号 |
JP19910261191 |
申请日期 |
1991.09.12 |
| 申请人 |
HEWLETT PACKARD CO <HP> |
发明人 |
MAIKERU ERU BUROTSUKU;RONARUDO KEI KAASHIYUNAA;SUTEFUAN JIEI KUTSUKU |
| 分类号 |
G01R1/06;G01R1/073;G01R31/28 |
主分类号 |
G01R1/06 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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