发明名称 METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE BY CONTROLLING THE PROFILE OF THE DENSITY OF P-TYPE IMPURITIES IN THE SOURCE/DRAIN REGIONS
摘要
申请公布号 US5147811(A) 申请公布日期 1992.09.15
申请号 US19910666912 申请日期 1991.03.11
申请人 KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA 发明人 SAKAGAMI, EIJI
分类号 H01L21/265;H01L21/336;H01L27/115;H01L29/08;H01L29/10 主分类号 H01L21/265
代理机构 代理人
主权项
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