发明名称 IC TEST PATTERN GENERATOR
摘要
申请公布号 JPH04258774(A) 申请公布日期 1992.09.14
申请号 JP19910018827 申请日期 1991.02.12
申请人 ADVANTEST CORP 发明人 SUZUKI MASAYUKI
分类号 G01R31/28;G01R31/3183 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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