首页
产品
黄页
商标
征信
会员服务
注册
登录
全部
|
企业名
|
法人/股东/高管
|
品牌/产品
|
地址
|
经营范围
发明名称
IC TEST PATTERN GENERATOR
摘要
申请公布号
JPH04258774(A)
申请公布日期
1992.09.14
申请号
JP19910018827
申请日期
1991.02.12
申请人
ADVANTEST CORP
发明人
SUZUKI MASAYUKI
分类号
G01R31/28;G01R31/3183
主分类号
G01R31/28
代理机构
代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
Hypoid gear design method and hypoid gear
合/分路器及直流通路自适应选通电路
一种可漏食的飞盘
带附加制动的自动扶梯驱动装置
一种模切机的刀具加压保护器
一种羊绒真丝T恤面料
一种深度成型机
一种基于IC芯片HY-2815的开关控制电路
一种夹具结构
一种全黑双玻光伏组件
一种具有夹装组件的钻孔机
用于油炸食品的燃煤油炸锅炉
一种智能头盔
一种焊接式切槽刀
一种便携式智能卡终端系统
RADIO SIGNAL TRANSMITTING METHOD AND RADIO APPARATUS
Coordinating Multiple Contactless Data Carriers
FLUID MANIFOLD SYSTEMS
GRIPPING AND RELEASING MECHANISM FOR BLANK PIPES IN A MOULD
Method and system for protecting an isolated worker on board a motor vehicle