发明名称 TEST CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
摘要
申请公布号 JPH04258776(A) 申请公布日期 1992.09.14
申请号 JP19910042700 申请日期 1991.02.12
申请人 MITSUBISHI ELECTRIC CORP 发明人 YOSHIDA TOSHIHIRO
分类号 G01R31/28;G01R31/3185 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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