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经营范围
发明名称
APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR
摘要
申请公布号
JPH04249779(A)
申请公布日期
1992.09.04
申请号
JP19900418453
申请日期
1990.12.28
申请人
NEC YAMAGATA LTD
发明人
MAKI MAMORU
分类号
G01R19/12;G01R31/26
主分类号
G01R19/12
代理机构
代理人
主权项
地址
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