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发明名称
PROCEDE DE GENERATION DE CONFIGURATIONS DE TEST POUR DISPOSITIFS A RESEAUX LOGIQUES
摘要
申请公布号
FR2573887(B1)
申请公布日期
1992.09.04
申请号
FR19850017384
申请日期
1985.11.25
申请人
NEC CORP
发明人
MASATO KAWAI
分类号
H04L29/14;G01R31/28;G01R31/3183;G06F17/50;(IPC1-7):G06F11/30
主分类号
H04L29/14
代理机构
代理人
主权项
地址
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