发明名称 PROCEDE DE GENERATION DE CONFIGURATIONS DE TEST POUR DISPOSITIFS A RESEAUX LOGIQUES
摘要
申请公布号 FR2573887(B1) 申请公布日期 1992.09.04
申请号 FR19850017384 申请日期 1985.11.25
申请人 NEC CORP 发明人 MASATO KAWAI
分类号 H04L29/14;G01R31/28;G01R31/3183;G06F17/50;(IPC1-7):G06F11/30 主分类号 H04L29/14
代理机构 代理人
主权项
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