| 发明名称 |
Messeinrichtung mit einem Elektronenmikroskop |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
CH420670(A) |
申请公布日期 |
1966.09.15 |
| 申请号 |
CH19640001754 |
申请日期 |
1964.02.14 |
| 申请人 |
UNITED STATES ATOMIC ENERGY COMMISSION |
发明人 |
VICTOR CREWE,ALBERT |
| 分类号 |
G01Q30/04;H01J37/141;H01J37/15;H01J37/256 |
主分类号 |
G01Q30/04 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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