发明名称 ANALYSIS METHOD FOR TROUBLE IN SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要
申请公布号 JPH04239146(A) 申请公布日期 1992.08.27
申请号 JP19910002484 申请日期 1991.01.14
申请人 NEC CORP 发明人 KATO TOSHIHIRO
分类号 G01R31/302;H01L21/66 主分类号 G01R31/302
代理机构 代理人
主权项
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