| 摘要 |
On utilise la luminescence des centres M afin de mesurer des radiations. On excite un crystal LiF (20) à l'aide d'un laser (442) nm He-Cd, car les mesures d'absorption dans LiF indiquent que la crête de l'absorption des centres M se produit à 443 nm. La stimulation laser produit un état excité du centre M, lequel subit un fort décalage de coup. La crête du spectre d'émission du centre M se produit à 665 nm avec une demi largeur de 0,36 ev. Puisque la longueur d'onde d'excitation diffère de manière significative de la longueur d'onde d'émission, on peut procéder simultanément à la mesure de l'émission rouge foncé et de l'excitation. La population de centres M croît avec l'augmentation des détériorations par radiations, et par conséquent la luminescence des centres M produit une base de dosimétrie de radiation. |
