Dispositif d'examen d'échantillons, notamment pour dosimètres,申请号FR19650041863-传众专利搜索

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法人/股东/高管

发明名称	Dispositif d'examen d'échantillons, notamment pour dosimètres
摘要
申请公布号	FR1475694(A)	申请公布日期	1967.04.07
申请号	FR19650041863	申请日期	1965.12.10
申请人	COMMISSARIAT A L'ENERGIE ATOMIQUE	发明人
分类号	G01T1/105;G21F7/06	主分类号	G01T1/105
代理机构		代理人
主权项
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