DETECTING APPARATUS FOR DEFECTIVE CHARACTERISTIC OF SEMICONDUCTOR LASER,申请号JP19910004909-传众专利搜索

发明名称	DETECTING APPARATUS FOR DEFECTIVE CHARACTERISTIC OF SEMICONDUCTOR LASER
摘要
申请公布号	JPH04236370(A)	申请公布日期	1992.08.25
申请号	JP19910004909	申请日期	1991.01.21
申请人	NEC CORP	发明人	NOZAKI GAKUO
分类号	G01M11/00;G01R31/26;G06G7/60;H01S5/00	主分类号	G01M11/00
代理机构		代理人
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