| 摘要 |
L'invention est relative à un procédé et à un dispositif de mesure de la température Tx d'un matériau ou d'un objet quelconque, utilisant un rayonnement micro-onde, ainsi qu'à une application dudit procédé pour la détermination du coefficient de réflexion hyperfréquence d'un matériau ou d'un objet quelconque. Selon le procédé, on capte le rayonnement micro-onde émis par l'intermédiaire d'une antenne (1) et on dirige les signaux reçus vers des moyens (3) de traitement des signaux. En outre, on intercale, entre l'antenne (1) et lesdits moyens (3), une ligne (4) d'impédance donnée, fonction de l'impédance d'entrée desdits moyens (3), de longueur L très grande devant la longueur d'onde des signaux traités, telle que le facteur de corrélation desdits moyens (3) soit négligeable. Par ailleurs, on traite la tension de sortie par calcul de tous les paramètres en modifiant cycliquement la structure desdits moyens de traitement (3). |
