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发明名称 VERFAHREN ZUR MESSUNG VON STRAHLUNGSSCHWANKUNGEN UND ANWENDUNG DESSELBEN ZUM NACHWEIS EINES ANALYTEN.
摘要
申请公布号 AT78586(T) 申请公布日期 1992.08.15
申请号 AT19850306450T 申请日期 1985.09.11
申请人 SYNTEX (U.S.A.) INC. 发明人 BRIGGS, JONATHAN
分类号 G01J1/00;G01J1/42;G01N15/14;G01N21/64;G01N33/48;G01N33/483;G01N33/49;G01N33/53;G01N33/536;G01N33/542;(IPC1-7):G01J1/00 主分类号 G01J1/00
代理机构 代理人
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