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发明名称 TESTING METHOD FOR INTEGRATED CIRCUIT
摘要
申请公布号 JPH04220576(A) 申请公布日期 1992.08.11
申请号 JP19900404551 申请日期 1990.12.20
申请人 FUJITSU LTD 发明人 KON KAZUSHIGE
分类号 G01R31/28;G11C29/00;G11C29/02;G11C29/56;H01L21/66;H01L21/822;H01L27/04 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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