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发明名称 SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING A PARTICULAR STRUCTURE ALLOWING FOR VOLTAGE STRESS TEST APPLICATION
摘要
申请公布号 US5138427(A) 申请公布日期 1992.08.11
申请号 US19900547036 申请日期 1990.07.02
申请人 KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA 发明人 FURUYAMA, TOHRU
分类号 H01L21/66;G01R31/28;G11C11/401;G11C11/407;G11C29/00;G11C29/06;H01L21/768;H01L21/8242;H01L23/528;H01L27/108 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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