发明名称 PROCESS AND DEVICE FOR TESTING APPARENT JUNCTION DIODES MOUNTED IN PARALLEL
摘要 Le procéde utilise la sensibilité photoélectrique des jonctions de diode. Il consiste, pour tester une diode déterminée appartenant à un groupe de diodes connectées en parallèle, à éclairer la jonction de la diode considérée avec une lumière appartenant à la plage de sensibilité photoélectrique de ladite jonction, à refermer le groupe de diodes aux bornes d'une charge électrique et à constater l'apparition, aux bornes de ladite charge, d'un photocourant traduisant le bon fonctionnement de la diode considérée. Lorsque le groupe de diodes fait partie d'un montage au sein duquel il est connecté en série avec d'autres groupes de diodes, la diode sous test est éclairée par une lumière intermittente tandis qu'une diode au moins de chacun des autres groupes est éclairée en continu et que l'on cherche à détecter un photocourant intermittant traversant une charge aux bornes de laquelle est connecté le montage. On distingue sur la figure un dispositif de test qui comporte une batterie (1) de diodes électroluminescentes et un détecteur photocourant (2) pilotés par un calculateur (3).
申请公布号 WO9213282(A1) 申请公布日期 1992.08.06
申请号 WO1992FR00018 申请日期 1992.01.10
申请人 THOMSON-CSF 发明人 PRIGENT, JEAN-LUC
分类号 G01R31/26;G01R31/265;G01R31/27 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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