METHOD OF DIRECTLY DERIVING AMPLITUDE AND PHASE INFORMATION OF AN OBJECT FROM IMAGES PRODUCED BY A HIGH-RESOLUTION ELECTRON MICROSCOPE,申请号US19910731676-传众专利搜索

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发明名称	METHOD OF DIRECTLY DERIVING AMPLITUDE AND PHASE INFORMATION OF AN OBJECT FROM IMAGES PRODUCED BY A HIGH-RESOLUTION ELECTRON MICROSCOPE
摘要
申请公布号	US5134288(A)	申请公布日期	1992.07.28
申请号	US19910731676	申请日期	1991.07.17
申请人	U.S. PHILIPS CORP.	发明人	VAN DIJCK, DIRK E. M.
分类号	H01J37/22;H01J37/26	主分类号	H01J37/22
代理机构		代理人
主权项
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