发明名称 |
PROCESS FOR FORMING SILICON OXIDE FILM |
摘要 |
Procédé de formation d'une couche en oxyde de silicium consistant à déposer sur un substrat une couche mince de silanol, d'un polymère de celui-ci ou d'un polymère de siloxane, chacun contenant un groupe organique, par l'excitation d'un gaz renfermant un gaz organosilane ou organosiloxane et un gaz renfermant H et OH, sur un substrat dans une chambre de réaction, de manière à provoquer une réaction dans une phase gazeuse ou sur le substrat; et à enlever le groupe organique de la couche mince par un traitement par plasma. De préférence, on forme la couche mince en effectuant à plusieurs reprises le dépôt et l'enlèvement dans la même chambre, et on la soumet à un traitement thermique à une température égale ou inférieure à 450 °C. Ce procédé permet d'obtenir une couche présentant un excellent effet d'isolation et une planitude comparable à celle d'une couche SOG. |
申请公布号 |
WO9212535(A1) |
申请公布日期 |
1992.07.23 |
申请号 |
WO1991JP01739 |
申请日期 |
1991.12.19 |
申请人 |
FUJITSU LIMITED;FUJITSU VLSI LIMITED |
发明人 |
TSUKUNE, ATSUHIRO;FURUMURA, YUJI;HATANAKA, MASANOBU |
分类号 |
H01L21/312;H01L21/316;H01L21/768 |
主分类号 |
H01L21/312 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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