发明名称 陶瓷材料烧结曲线的测量与控制系统
摘要 一种陶瓷材料烧结曲线测量与控制系统,光学系统、电荷耦合器件、信号处理系统、烧结收缩曲线设定程序、炉温控制与测量系统及高温烧结炉等部分组成,既可克服接触法测量系统的困难,又能使被烧结材料温度提高(从室温到~2200℃)。由于采用光学图像法与电荷耦合器件作为光电转换元件,可以直接测量、自动记录烧结过程中尺寸的变化,也可以实现自动控制烧结工艺过程,设备简单合理,使用方便可靠。
申请公布号 CN1062890A 申请公布日期 1992.07.22
申请号 CN90106107.7 申请日期 1990.12.28
申请人 中国科学院上海硅酸盐研究所 发明人 宋育才;任国鑫;李宗杰;符瑞华;朱月萍;洪求丽;彭国生
分类号 C04B35/64;G05B19/05 主分类号 C04B35/64
代理机构 中国科学院上海专利事务所 代理人 聂淑仪
主权项 1、一种陶瓷材料烧结曲线的测量与控制系统,包括:示波器5、计算机6、红外光学高温计7、打印机9,其特征在于: (1)、采用电荷藕合器件4与光学系统3, (2)测量与控制系统的搭置: 被测试样2置于高温烧结炉1中,外接炉温控温仪8,测温用红外光学高温计7置于高温炉一侧,位于高温炉1与控温8之间,光学系统3位于高温炉1的另一侧与高温计7相对,并置于同一水平线上;2#CCD器件及其驱动电路4位于下方,与光路呈垂直向外接示波器5、计算机6;1#CCD器件沿光路水平右向搁置,外接计算机5及示波器6;控温仪8,外接计算机6;计算机6与打印机9配套连接。
地址 200050上海市长宁区长宁路865号