发明名称 |
陶瓷材料烧结曲线的测量与控制系统 |
摘要 |
一种陶瓷材料烧结曲线测量与控制系统,光学系统、电荷耦合器件、信号处理系统、烧结收缩曲线设定程序、炉温控制与测量系统及高温烧结炉等部分组成,既可克服接触法测量系统的困难,又能使被烧结材料温度提高(从室温到~2200℃)。由于采用光学图像法与电荷耦合器件作为光电转换元件,可以直接测量、自动记录烧结过程中尺寸的变化,也可以实现自动控制烧结工艺过程,设备简单合理,使用方便可靠。 |
申请公布号 |
CN1062890A |
申请公布日期 |
1992.07.22 |
申请号 |
CN90106107.7 |
申请日期 |
1990.12.28 |
申请人 |
中国科学院上海硅酸盐研究所 |
发明人 |
宋育才;任国鑫;李宗杰;符瑞华;朱月萍;洪求丽;彭国生 |
分类号 |
C04B35/64;G05B19/05 |
主分类号 |
C04B35/64 |
代理机构 |
中国科学院上海专利事务所 |
代理人 |
聂淑仪 |
主权项 |
1、一种陶瓷材料烧结曲线的测量与控制系统,包括:示波器5、计算机6、红外光学高温计7、打印机9,其特征在于: (1)、采用电荷藕合器件4与光学系统3, (2)测量与控制系统的搭置: 被测试样2置于高温烧结炉1中,外接炉温控温仪8,测温用红外光学高温计7置于高温炉一侧,位于高温炉1与控温8之间,光学系统3位于高温炉1的另一侧与高温计7相对,并置于同一水平线上;2#CCD器件及其驱动电路4位于下方,与光路呈垂直向外接示波器5、计算机6;1#CCD器件沿光路水平右向搁置,外接计算机5及示波器6;控温仪8,外接计算机6;计算机6与打印机9配套连接。 |
地址 |
200050上海市长宁区长宁路865号 |