发明名称 IC MEMORY TESTING DEVICE
摘要
申请公布号 JPH04186600(A) 申请公布日期 1992.07.03
申请号 JP19900314044 申请日期 1990.11.21
申请人 HITACHI LTD 发明人 ONISHI FUJIO
分类号 G01R31/28;G11C29/00;G11C29/44 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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