摘要 |
Instalación para la medición de la posición relativa de dos objetos, en la que un cuerpo de medición presenta una división y a lo largo de la división presenta marcas de referencia adjudicadas absolutamente a esta división en la dirección de medición y una unidad de exploración explora la división y las marcas de referencia, caracterizada por las siguientes características para la selección al menos de una marca de referencia necesaria para la medición: a) la unidad de exploración (A) presenta al menos dos elementos de exploración de referencia (RP1;RP2) para la exploración simultánea al menos de dos marcas de referencia (R1n) para la generación simultánea de señales de referencia (RS1n - 1,RS1n) o bien de dos partes de marcas de referencia (R2an,R2bn) de una marca de referencia (R2n) para la generación de señales parciales de referencia (RS2an,RS2bn); b) las señales de referencia generadas al mismo tiempo (RS1n - 1,RS1r) o bien las señales parciales de referencia (RS2an, RS2bn) se pueden superponer entre sí para la formación de una señal de referencia resultante; c) la marca de referencia seleccionada (R1x;R2x) presenta al menos una marca de referencia inactiva (T1u) vecina o bien al menos una parte de marca de referencia inactiva (R2bx); d) solamente en la exploración simultánea de la marca de referencia (R1x) seleccionada y de al menos una de las marcas de referencia inactivas (R1u) o bien de al menos una parte de marca, de referencia (R2ax) junto con al menos una parte de marca de referencia inactiva (R2bx) de la marca de referencia (R2x) seleccionada) es generable una señal de referencia resultante (RRS1x;RRS2x) evaluable.
|