发明名称 CHECKING METHOD FOR ABRASION OF SOCKET FOR MEASURING CHARACTERISTIC OF SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要
申请公布号 JPH04181175(A) 申请公布日期 1992.06.29
申请号 JP19900309713 申请日期 1990.11.15
申请人 NEC YAMAGATA LTD 发明人 SUZUKI MASASHI
分类号 G01R31/26;G01N27/04;G01R31/00;H01L21/66 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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