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发明名称 IC TESTING APPARATUS
摘要
申请公布号 JPH04172268(A) 申请公布日期 1992.06.19
申请号 JP19900298891 申请日期 1990.11.06
申请人 HITACHI ELECTRON ENG CO LTD 发明人 WADA YUJI
分类号 G01R31/317;G01R31/28 主分类号 G01R31/317
代理机构 代理人
主权项
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