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发明名称
TESTING OF LOGICALLY INTEGRATED CIRCUIT
摘要
申请公布号
JPH04169875(A)
申请公布日期
1992.06.17
申请号
JP19900297418
申请日期
1990.11.02
申请人
NEC CORP
发明人
TANAKA SADAAKI
分类号
G01R31/3183;G01R31/28
主分类号
G01R31/3183
代理机构
代理人
主权项
地址
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