TESTING DEVICE FOR LSI,申请号JP19900297474-传众专利搜索

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发明名称	TESTING DEVICE FOR LSI
摘要
申请公布号	JPH04169877(A)	申请公布日期	1992.06.17
申请号	JP19900297474	申请日期	1990.11.02
申请人	NEC IC MICROCOMPUT SYST LTD	发明人	SUZUKI SHINOBU
分类号	G01R31/28;H01L21/66	主分类号	G01R31/28
代理机构		代理人
主权项
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