发明名称 PROCEDE D'ETALONNAGE D'UN SYSTEME DE METROLOGIE TRIDIMENSIONNELLE.
摘要 <P>Dans ce procédé, on utilise un objet étalon (4) constitué d'un ensemble de plans s'interceptant, des moyens d'acquisition de l'image comportant un réseau de franges (2) projeté sur l'objet étalon et une optique de visualisation (8) associée à une caméra de prise de vue (10) fixant l'image obtenue par ladite projection du réseau de franges sur l'objet étalon, et des moyens (12) de traitement automatique permettant la détermination des caractéristiques des moyens d'acquisition et des caractéristiques de la position relative du référentiel lié à l'étalon par rapport au référentiel objet lié à l'optique de visualisation. Ce procédé s'applique à l'établissement de cartographies et au contrôle de pièces mécaniques de formes variées.</P>
申请公布号 FR2670283(A1) 申请公布日期 1992.06.12
申请号 FR19900015207 申请日期 1990.12.05
申请人 COMMISSARIAT A ENERGIE ATOMIQUE 发明人 BOURDARIOS GUY;RIOUFREYT PHILIPPE
分类号 G01B11/25;(IPC1-7):G01B11/24;G01B9/02;G01D18/00;G06F15/62 主分类号 G01B11/25
代理机构 代理人
主权项
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