发明名称 PROCESS AND DEVICE FOR DIRECTING AN ELECTRON BEAM RELATIVELY TO A REFERENCE OBJECT
摘要 <p>Beim Verfahren zur Ausrichtung eines Elektronenstrahles relativ zzu einem eine Nutzgravur aufweisenden Bezugsobjekt, das als eine im wesentlichen zylindrisch gestaltete Walze ausgebildet ist, wird die Walze zunächst in Umfangsrichtung durch eine Elektronenstrahlbeaufschlagung mit einer eine Referenzmarkierung ausbildenden Reihe von Ausnehmungen versehen. Anschließend wird relativ zur Referenzmarkierung exakt positioniert mindestens ein Teil der Nutzgravur erzeugt. Nach einer Unterbrechung der Elektronenstrahlbeaufschlagung wird die Referenzmarkierung während eines Meßbetriebes vom Elektronenstrahl durch Abtastung in Längsrichtung der Walze detektiert und anschließend durch Abtastung der Umfangsrichtung der Walze ein Referenzpunkt aufgefunden. Die die Referenzmarkierung ausbildenden Ausnehmungen werden in einem sich lediglich über einen Teil des Umfanges der Walze erstreckenden Umfangsbereiches angeordnet. Nach Auffinden der Positionierung der Referenzmarkierung in Längsrichtung der Walze wird während mehrerer Meßzyklen jeweils innerhalb eines Meßfensters vorgebbarer Dauer eine Positionsanalyse durch die relative Auswertung von aufeinanderfolgenden Meßzyklen zugeordneten Meßsignalamplituden durchgeführt.</p>
申请公布号 WO1992010050(A1) 申请公布日期 1992.06.11
申请号 DE1991000917 申请日期 1991.11.22
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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