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Un procédé et des dispositifs de mesure opto-électrique servant à déterminer les dimenions de la section transversale d'objets notamment allongés par rapport à au moins une ligne droite tracée à la périphérie de ladite section transversale, touchant celle-ci en au moins deux points. Un rayon lumineux parallèlement déplacé à l'intérieur d'un champ de mesure traverse en des points mesurables du champ de mesure les limites d'une ombre projetée par l'objet situé dans le champ de mesure. Ce même rayon lumineux, après déviation, ou un autre rayon lumineux, éclaire ponctuellement la surface de l'objet, sous un angle prédéterminé. L'écartement entre l'axe du rayon lumineux à l'endroit d'une limite déterminée de l'ombre et le point éclairé est déterminé par reproduction de celui-ci sous un angle différent de l'angle d'éclairage et par évaluation de la position de l'image reproduite selon les règles de triangulation. Lorsque l'on fait pivoter l'ensemble du système de mesure par rapport à l'orientation de la section transversale de l'objet, autour d'un axe parallèle à l'axe longitudinal de celui-ci, la courbe de l'écartement déterminé subit une instabilité détectable caractéristique de ladite position de pivotement du système de mesure, dans laquelle l'axe du rayon lumineux touche au moins deux points mutuellement écartés de la périphérie de la section transversale à l'endroit de la limite déterminée de l'ombre. |
