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经营范围
发明名称
TEST CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
摘要
申请公布号
JPH04147500(A)
申请公布日期
1992.05.20
申请号
JP19900272758
申请日期
1990.10.11
申请人
NEC IC MICROCOMPUT SYST LTD
发明人
HIRANO TETSUJI
分类号
G11C29/00
主分类号
G11C29/00
代理机构
代理人
主权项
地址
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