发明名称 MEMORY IC TESTER
摘要
申请公布号 JPH04130281(A) 申请公布日期 1992.05.01
申请号 JP19900250000 申请日期 1990.09.21
申请人 NEC CORP 发明人 SASAKI HIRONAKA
分类号 G01R31/28;G06F11/22;G06F12/16;G11C29/00;G11C29/56 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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