| 发明名称 |
DETERMINATION OF REFRACTIVE INDEX AND THICKNESS OF THIN LAYERS |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
AU622992(B2) |
申请公布日期 |
1992.04.30 |
| 申请号 |
AU19900051475 |
申请日期 |
1990.03.20 |
| 申请人 |
BASF AKTIENGESELLSCHAFT |
发明人 |
WERNER HICKEL;WOLFGANG KNOLL |
| 分类号 |
G01B11/06;(IPC1-7):G01N21/41;G01B9/04 |
主分类号 |
G01B11/06 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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