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经营范围
发明名称
IC TEST SYSTEM
摘要
申请公布号
JPH04110677(A)
申请公布日期
1992.04.13
申请号
JP19900229284
申请日期
1990.08.30
申请人
NEC KYUSHU LTD
发明人
SUGINO YASUKI
分类号
G01R31/28
主分类号
G01R31/28
代理机构
代理人
主权项
地址
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