发明名称 | 超声检测方法 | ||
摘要 | 公开了一种超声回波学技术,利用超声束相对工件中结构的特殊取向,使工件的回波屏蔽区减小,回波—屏蔽区是由于在工件中的结构使超声波向回反射到超声探头引起的,因此屏蔽了从异常点产生的很小的回波(如果在工件中存在异常的话)。在通常的声束取向中。声束所位于的扫描平面是垂直地指向结构的;本发明的扫描平面是根据相对于这些结构不垂直的条件来选定的,从而减小了由这些结构引起的回波—屏蔽区的体积。 | ||
申请公布号 | CN1016216B | 申请公布日期 | 1992.04.08 |
申请号 | CN89102502.2 | 申请日期 | 1989.02.27 |
申请人 | 尼古拉斯·C·费雷拉 | 发明人 | 尼古拉斯·C·费雷拉 |
分类号 | G01N29/10 | 主分类号 | G01N29/10 |
代理机构 | 中国专利代理有限公司 | 代理人 | 吴增勇;叶凯东 |
主权项 | 1.一种用于检测工件中超声异常的超声扫描方法,该工件具有一个检测表面,并且至少有一个引起回波—屏蔽区域的结构,该方法包括用如下的步骤完成一个检测循环:a.沿着声束轴线方向的探头发射出超声脉冲束,穿过透射介质,使该声束以选定的投射角投射到检测表面上,并从该处进入工件;b.接收从工件反射的回波脉冲;c.显示该回波脉冲,以显示那些表示在工件内存在异常(如果有的话),以及d.使该声束横过沿着检测面的事先选定的路径;其改进包括:通过根据使脉冲声束位于一个或多个第一扫描平面的要求来确定探头相对工件的取向,完成一个或多个第一检测循环,该一个或多个第一平面在其与折回—反射结构相交的一点或各点处,至少与一个所说的折回—反射结构不相垂直,因此减小了回波—屏蔽区的体积,所说的减小是相对于利用探头取向,一个或多个对应的扫描平面与所说的至少一个折回—反射结构相垂直下,而产生的回波—屏蔽区的体积。 | ||
地址 | 美国康涅狄格州 |