TEST CIRCUIT FOR RAM,申请号JP19900227285-传众专利搜索

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发明名称	TEST CIRCUIT FOR RAM
摘要
申请公布号	JPH04106799(A)	申请公布日期	1992.04.08
申请号	JP19900227285	申请日期	1990.08.28
申请人	NEC CORP	发明人	KOGA TAKATOSHI
分类号	G11C11/401;G11C11/413;G11C29/00;G11C29/10;G11C29/12	主分类号	G11C11/401
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