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发明名称
SEMICONDUCTOR DEVICE FOR TEST USE
摘要
申请公布号
JPH04102345(A)
申请公布日期
1992.04.03
申请号
JP19900220200
申请日期
1990.08.22
申请人
NEC CORP
发明人
ISHIKA MASAO
分类号
G01R31/26;G01R31/30;H01L21/66
主分类号
G01R31/26
代理机构
代理人
主权项
地址
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