发明名称 Input protection structure for integrated circuits.
摘要 Eine Eingangsschutzstruktur für integrierte Schaltungen mit einer Oxid-Isolation benachbarter Bauelemente, die durch Verschalten von zwei Transistoren (3, 4) zu einem Thyristor gebildet ist, soll einen hohen Schutz gegen elektrostatische Entladungen insbesondere auch im Falle einer fehlenden Versorgungsspannung (Us) gewährleisten. Zu dem Thyristor (3, 4) ist mindestens ein zusätzlicher Transistor (5) parallel geschaltet, und die Basis des Transistors (5) ist mit einem Anschluß für ein Versorgungspotential (Us) verbunden. <IMAGE>
申请公布号 EP0477392(A1) 申请公布日期 1992.04.01
申请号 EP19900118325 申请日期 1990.09.24
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 BECKER BURKHARD, DR.RER.NAT.
分类号 H01L27/04;H01L21/822;H01L27/02;H03F1/52 主分类号 H01L27/04
代理机构 代理人
主权项
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