| 发明名称 |
PROGRAMMABLE LOGIC CIRCUIT AND TESTING METHOD THEREFOR |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH0495787(A) |
申请公布日期 |
1992.03.27 |
| 申请号 |
JP19900208055 |
申请日期 |
1990.08.08 |
| 申请人 |
FUJITSU LTD |
发明人 |
TANIGUCHI KENJI;SENOO MASAYUKI |
| 分类号 |
G01R31/317;H01L21/66;H01L21/82;H03K19/177 |
主分类号 |
G01R31/317 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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