| 发明名称 |
DEVICE AND METHOD FOR TEST USING ACTIVE PROBE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH0495929(A) |
申请公布日期 |
1992.03.27 |
| 申请号 |
JP19900211199 |
申请日期 |
1990.08.08 |
| 申请人 |
FUJITSU LTD |
发明人 |
MARUYAMA YOSHIAKI;HINOBORI EIJI;IMAI SATORU;KITAZAWA YASUTOSHI |
| 分类号 |
G02F1/13;G01R1/073;G01R31/00;G02F1/1345 |
主分类号 |
G02F1/13 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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