发明名称 半导体存贮器件及其操作方法
摘要 一种半导体存储器件中有许多按阵列形式排列的存储单元,数据能写入存储单元中,并能顺序地读出。每个存储单元有开关元件,该开关元件的一端与阵列比特线连接,另一端与至少一个铁电电容器连接,其控制端与字线连接,当供给一个不足以引起铁电电容器状态变化的电压时,存储单元工作,用来检测铁电电容器的极化变化。此外,铁电电容器和除铁电电容器以外的另一电容器与开关元件连接。在另一种形式中,有许多铁电电容器与开关元件连接,这样,每一个单元中可以写入不同的数据。
申请公布号 CN1059798A 申请公布日期 1992.03.25
申请号 CN91108568.8 申请日期 1991.08.03
申请人 株式会社日立制作所 发明人 齐藤隆一;小野濑秀胜;小林裕;大上三千男
分类号 G11C11/34;H01L27/04;H01L29/78 主分类号 G11C11/34
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利代理部 代理人 冯赓瑄
主权项 1、一种半导体存贮器件的操作方法;所说半导体存贮器件有至少一个存贮单元,所说的至少一个存贮单元有至少一个铁电电容元件;其特征是,所说的至少一个铁电电容器元件有第一和第二极化状态,在所说的铁电电容元件上跨接相应的第一和第二电压时,两种极化状态之间可以转换; 所说的方法包括: 加所说的第一电压跨接在所说的铁电电容元件上,使所说的铁电电容元件处于所说的第一状态; 加另一电压跨接在所说的铁电电容元件上,使所说的铁电电容元件从所说到的第一状态变成另一状态,所说的另一电压与所说的第二状态对应的电压不同;和 测量跨接在所说的至少一个铁电电容元件所说第一状态与第二状态之间的极化变化。
地址 日本东京