发明名称 SUBSTRATE PROTECTIVE APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR-ELEMENT MEASUREMENT
摘要
申请公布号 JPH0482245(A) 申请公布日期 1992.03.16
申请号 JP19900195895 申请日期 1990.07.24
申请人 TOSHIBA CORP;TOUSHIBA MAIKURO EREKUTORONIKUSU KK 发明人 KONO YUICHI
分类号 H01L21/66;G01R31/28 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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